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DSA8300 系列数字采样示波器

DSA8300 系列数字采样示波器

DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动,可以实现异常准确的器件检定,支持 光通信 标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 400G PAM4 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。

特点

优势

电气模块信号测量精度:
  • 超低系统抖动(<100 fs,典型值)
  • > 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定(数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波)。
在所有带宽上实现业内较低的系统噪声:
  • 大值 600 µV(典型值 450 µV)@ 60 GHz
  • 大值 380 µV(典型值 280 µV)@ 30 GHz
较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量,采样率 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头较大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度。

模块 描述
80E11 8000 系列,双通道,70 GHz,超低抖动,电采样模块(包含 D1)
80E10B 8000 系列,双通道,50 GHz,远程电采样模块,带 TDR(包含 D1)
80E08B 8000 系列,双通道,30 GHz,远程电采样模块,带 TDR(包含 D1)
80E09B 8000 系列,双通道,60 GHz,远程电采样模块(包含 D1)
80E11X1 8000 系列,单通道,70 GHz,超低抖动,电采样模块(包含 D1)
80A02 EOS/ESD 保护模块,用于泰克电采样模块的静电隔离;本产品包含一致性声明
80C17 8000 系列光模块:单通道,30GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm
80C14 14+ GHz,宽波长,放大光采样模块
80E03 采样模块;双,20GHZ 电采样模块 - 可追溯校准标准证明
80E04 采样模块;双,20GHZ 带 TDR 电采样模块 - 可追溯校准标准证明
80E07B 8000 系列,双通道,30 GHz,远程电采样模块(包含 D1)
80N02 8000 Series Electrical Sampling Module Extender, 2M Cable
82A04B 8000 系列,相位参考模块(包括 D1)
80C08D 单通道光采样模块;10G 光参考接收机滤波器;12 GHz 光宽带;单模/多模
80C12B 12 GHz,宽波长,放大光采样模块
80C21

8000 系列光模块:双通道,53 GHz 光带宽,单模,1200nm - 1650nm

80C10C 单通道,65/80 GHz 光采样模块(必须指定 F1、F2 或 F3 中的一个选件)
80C20

8000 系列光模块:单通道, 53 GHz 光带宽,单模,1200nm - 1650nm

80C18 8000 系列光模块:双通道,30GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm
80C15 8000 系列光模块:单通道,32GHz 光带宽,单/多模,800nm ~ 1600nm
80C07B 光采样模块;2.488 GB/S O8/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S 无限带宽;2.5 GHZ 光带宽
80C11B 单通道光采样模块;10G 光参考接收机滤波器;28 GHz 光宽带;单模

产品技术资料 软件包 / 软件选件 描述
查看产品技术资料 100G-SR4

100GBASE-SR4 及发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 自动化一致性和调试测试解决方案

查看产品技术资料 80SICMX ICONNECT 和 MEASUREXTRACTOR 信号完整性及故障分析软件
查看产品技术资料 80SICON ICONNECT 信号完整性及故障分析软件
查看产品技术资料 80SJNB PAM4

用于 PAM4 调制分析的工具

80SJNB, 80SJARB

抖动、噪声和 BER 分析软件。

80SJNB01

抖动、噪声和 BER 分析软件版

查看产品技术资料 80SJNB02

带有 SDLA 可视化仪的抖动、噪声和 BER 分析软件

查看产品技术资料 80SSPAR ICONNECT S 参数和 Z-LINE 软件
查看产品技术资料 CEI-VSR

CEI-28G-VSR 测试软件自动化一致性和调试解决方案。

查看产品技术资料 Opt. 400G-M4

400G Optical Manufacturing analysis software, 4 channel TDECQ

查看产品技术资料 Opt. 80S400G-TXO

IEEE 802.3bs(200GBASE-DR4/LR4/FR4 和 400GBASE-DR4/LR8/FR8)和 IEEE 802.3cd(50GBASE-FR/LR 和 100GBASE-DR)光发射机一致性解决方案

产品技术资料链接 探头 描述
DVT30-1MM GigaProbe 30 GHz TDR 探头 由 GigaProbes 提供 。
查看产品技术资料 P8018 手持式 TDR 探头,无源;20 GHZ,单端,50 欧姆,SMA 连接器带 20 GHZ SMA 电缆;设计为配合使用 80A02 EOS/ESD 保护模块;本产品包含一致性声明
查看产品技术资料 P80318 探头包,18GHz 100 欧姆差分手持探头
低压单端探头
产品技术资料链接 探头 描述
查看产品技术资料 P6150 Passive Probe: 10X/1X, 9GHz, 12.5V low capacitance
低压差分探头
产品技术资料链接 探头 描述
查看产品技术资料 P7330 探头;差分;3.5 GHZ 带宽,+/-1.75 V 差分,大动态范围,+5V -4V 共模范围,输入处 2.3 MV RMS 噪声,5X 衰减 - 可追溯校准标准证明
查看产品技术资料 P7350 DIFFERENTIAL PROBE, 5 GHZ
查看产品技术资料 P7380SMA 8 GHZ DIFFERENTIAL SIGNAL ACQUISITION SYSTEM WITH SMA INPUTS,CERTIFICATE OF TRACEABLE CALIBRATION STANDARD